TEM场发射扫描透射电镜测试

日本JEOL 200kV场发射透射电子显微镜

服务简介

透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为0.10.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构,即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构,又称亚显微结构

仪器型号:

日本JEOL 200kV场发射透射电子显微镜

设备性能:

1、点分辨率:0.24nm

2、线分辨率:0.10nm

3、加速电压:100, 120, 160, 200kV

4、倾斜角:25度;

5、STEM分辨率:0.20nm

应用范围:

对各种材料的物质内部微结构进行观察,电子衍射分析及高分辨电子显微术研究,晶体结构及晶体性能进行研究,配合能谱仪可以对各种元素进行定性、及半定量的微区分析,广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。

制样要求:

1 块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;

2 粉末和液体样品,要求样品能够均匀分散在支持膜上并且干燥;

3 离子减薄需要样品在30um以下,不要超过50um 冲成Ф3mm(客户自己磨制)如果无法自己磨制,请补差300,寄双份样品;磁性样品不可离子减薄制样。

4超薄切片需要提前预约设备,测样前请和客服联系;

5 生物样品寄样直接用戊二醛固定即可,我司提供制样、切片和测试。

6 TEM-EDS是薄样品测试,不同于SEM-EDS,受仪器本身限制,满足以下要求的样品方可考虑测试TEM-mapping

(1) TEM样品必须制备在覆盖碳膜的铜网上,故含CCu元素的样品不能测试mapping

(2) Cu元素无法避免且含量很高,故要求所需测试的元素含量一般要大于5%方可尝试mapping

(3) N元素是原子序数很小的元素,在TEM中很难检测到,一般N元素含量>10%才有可能检测到。

7毒性样品请特别说明,谢谢。

收费标准:

测试项目

价格

形貌观察(非磁)

228/

形貌观察()

278/

高分辨(非磁)

298/

高分辨()

348/

EDS

88/

Mapping

400/

Saed

88/


服 务 商:
服务资质:
企业服务商
公司名称:
苏州克标检测服务有限公司
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