SEM扫描电镜测试

蔡司evo18(最大10万倍),日立场发射SU8220(最大100万倍)

服务简介

SEM二次电子可以看颗粒形貌,大小,分布。背散射可以看元素分布,相分布,夹杂。配备EDS可以做定性和定量成分测量。截面元素分布,点扫描,线扫描面扫描。

服务详情

仪器型号:

蔡司evo18(最大10万倍)日立场发射SU8220(最大100万倍)

设备性能:

1.电镜分辨率:

0.7nm@15kV(GBSH)

0.7nm@1kV(GBSH)

3.0nm@100V (GBSH)

1.0nm@15kV

1.5nm@1.0kV

3.0nm@15kV5nAEDS WD of 10mm

2.加速电压:10V~30kV

3.放大倍数:10X~1,000,000X

4.束流大小:几个pA~200nA

应用范围:

1固体样品的微观形貌、结构,样品的微区元素成分、线分布、面分布,广泛应用于纳米技术、材料、物理、化学、环境科学等领域

2 块体、粉末、磁性样品都适用

3 特别适合导电性不佳的样品形貌观察。

制样要求:

1样品尺寸:直径小于26mm,高度小于15mm(样品中不得含有水分)

2 固体粉末样品:不少于10mg

收费标准:

蔡司evo18(最大10万倍)

测试项目

价格

形貌

70/

EDS能谱(点,线,面)

40/,线80/样品100/样品


日立场发射SU8220(最大100万倍)

测试项目

价格

形貌

120/

喷金

一批50

EDS能谱(点,线,面)

40/,线80/样品100/样品




服 务 商:
服务资质:
企业服务商
公司名称:
苏州克标检测服务有限公司
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